TSEP auf der SENSOR+TEST 2018

06. Juli 2018 | Messe

Die internationale Leitmesse für Sensorik, Mess- und Prüftechnik hat vom 26. bis 28. Juni unter dem Motto „Willkommen zum Innovationsdialog!“ ihre Pforten geöffnet. Die SENSOR + TEST ist eine feste Größe in den Terminkalendern aller Anwenderbranchen, die für die Entwicklung und Produktion ihrer Produkte immer mehr Sensoren, Mess- und Prüfsysteme benötigen. Insgesamt haben demnach knapp 8.000 Fachbesucher die Möglichkeit genutzt, sich an den Messeständen der 591 Aussteller und in den Vortragsforen über den neuesten Stand in der Sensorik, Mess- und Prüftechnik zu informieren.

Wir möchten uns ganz herzlich für Ihren Besuch an unserem Messestand bedanken. Vielen Dank für Ihr Interesse an unserem Angebot und an unseren Leistungen!

TSEP hat 2 Vorträge gehalten.

Neben den umfangreichen Kongressprogrammen erwarteten die Besucher auch eine Vielzahl Fachvorträge auf den Ausstellerforen der Hallen 1 und 5. Die Aussteller boten dort einen Überblick über ihre neuesten Produkte und Entwicklungen. TSEP hat hierbei zwei Vorträge gehalten.

Am Mittwoch, den 27. Juni von 13.30 Uhr bis 14.00 Uhr, Zeitsynchronisation mit IEEE 1588 v2 und White Rabbit, Dipl. Ing. Peter Plazotta, CEO

Die Zeitsynchronisation über 1588 ist bereits seit 2008 als IEEE Norm festgeschrieben und wird bereits in verschiedensten Bereichen verwendet. Bisher war die Nutzung dieses Standards immer mit exotischer Hardware verbunden. Mit der Einführung der Intel Netzwerkchip Familien Intel I21x und Intel I35x ist dieser Standard nun für den Consumer Markt verfügbar. Innerhalb der Präsentation werden mögliche Einsatzszenarien und deren Genauigkeit vorgestellt. Zusätzlich werden die Probleme, die zur Erreichung der geforderten Genauigkeit auftreten können aufgezeigt. Das CERN Forschungsinstitut hat zur Verbesserung des IEEE 1588 Standards eine eigene Erweiterung definiert, den White Rabbit Standard. Innerhalb der Präsentation werden die Erweiterungen aufgezeigt und die dadurch erreichbare Genauigkeit diskutiert.

Am Donnerstag, den 28. Juni von 11.30 Uhr bis 12.00 Uhr, Der Wechsel in der Messgeräteansteuerung vom zentralen Steuerrechner zu verteilten Messsystemen, Dipl. Ing. Jochen Wolle, Technical Consultant

Messgeräte werden bereits seit über 50 Jahren von Steuerrechner direkt angesteuert. Hierbei hat sich eine sternförmige Topologie etabliert. Zur Ansteuerung wurden hierfür verschiedene Standards für die Hardware (GPIB, RS-232, LAN, USB etc.) und Software (SCPI, IVI, LabView) eingesetzt. Durch die Verbreitung des Ethernets und den damit verbundenen Standard sind nun neue Konzepte möglich. Hierzu wurde vor ca. 10 Jahren von einem amerikanischen Konsortium ein Standard ins Leben gerufen (LXI) der das Verhalten eines Messgerätes am Ethernet definiert. Aufgrund der weiten Verbreitung des Ethernets in der Messtechnik und neuen Standards (LXI und IEEE 1588) sind nun verteilte und zeitsynchrone Messgeräte möglich. Die Präsentation wird die neuen Möglichkeiten (Verteilte System, Zeitsynchronisierte System) aufzeigen und an einem realisierten Beispiel (Laufzeitmessungen eines Satelliten) die Vorteile darstellen.

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